EnglishStatistical analysis and modelling of spatial point patterns
Ouvrage
Illian, Janine (Secondaire) ; Pentinen, Antti (Secondaire) ; Stoyan, Helga (Secondaire) ; Stoyan, Dietrich (Secondaire)
2008
534 p.
978-0-470-01491-2
00030797
statistiques # processus stochastique # processus ponctuels # processus non-markovien # test d'hypothèse # estimation
Ville d'édition : N. J.
Pays d'édition : États-Unis
Langue : Anglais
EAN13 : 9780470014912
Collation : appendix#fig.#25 cm#rel. ; Index
Collection : Statistics in practice
Localisation : Ouvrage RdC (Stat)
Type d'ouvrage : Anonyme
Disponibilité : empruntable
Niveau d'autorisation : Public
Exemplaires
Nbre d'exemplaires : 1| N° | Cote | Code barre | Commentaire | |
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