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Congrès

H 0 Statistical analysis of measurement error models and applications :
proceedings of the ...California with support from the national science foundation and the U.S. Army research office#June 10-16

Brown, Philip J. (Editeur) ; Fuller, Wayne A. (Editeur)

American Mathematical Society

1990

248 p.

978-0-8218-5117-3

00016880

62F35 ; 62G05 ; 65C20 ; 65Gxx ; 92D30

analyse de l'erreur # analyse numérique # analyse statistique # estimation # estimation statistique # modèle d'erreur de mesure # modèle méthode numérique # robustesse # statistique # épidémiologie

Ville d'édition : Providence ; R.I.

Pays d'édition : États-Unis

Langue : Anglais

EAN13 : 9780821851173

ISBN : 0-8218-5117-9

Collation : Bibliogr. ; xii#25 cm#broch.

Collection : Contemporary mathematics

N° de collection : 0112

Localisation : Collection 1er étage

Nom de la rencontre : Proceedings of the AMS-IMS-SIAM joint summer research conference

Année de la rencontre : 1989

Ville du congrès : Arcata

Pays du congrès : États-Unis

Type Congrès : Congrès

Disponibilité : empruntable


Exemplaires

Nbre d'exemplaires : 1
Cote Code barre Commentaire
1 00016880 [disponible]
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