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Congrès

H 0 Advances in ranking and selection, multiple comparisons, and reliability :
methodology and applications#international conference held in honor of S. Panchapakesan in Chennai#Dec.

Balakrishnan, N. (Editeur) ; Kannan, N. (Editeur) ; Nagaraja, H. N. (Editeur)

Birkhäuser

2005

412 p.

978-0-8176-3232-8

00028226

62F03 ; 62F07 ; 62F10 ; 62J15 ; 62N01 ; 62N05

test d'hypothèse # rangement # sélection # estimation de point # comparaison multiple # modèle de données censurées # fiabilité

Ville d'édition : Basel ; Berlin ; Boston

Pays d'édition : États-Unis

Langue : Anglais

EAN13 : 9780817632328

ISBN : 0-8176-3232-8

Collation : tables#portr.#26 cm#rel. ; Bibliogr.

Collection : Statistics for industry and technology

Localisation : Colloque 1er étage (TAMI)

Année de la rencontre : 2002

Ville du congrès : Tamilnadu

Pays du congrès : Inde

Type Congrès : Congrès

Disponibilité : empruntable


Exemplaires

Nbre d'exemplaires : 1
Cote Code barre Commentaire
1 00028226 [disponible]
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