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Ouvrage

H 0 Statistical analysis and modelling of spatial point patterns

Illian, Janine (Secondaire) ; Pentinen, Antti (Secondaire) ; Stoyan, Helga (Secondaire) ; Stoyan, Dietrich (Secondaire)

John Wiley & Sons, LTD

2008

534 p.

978-0-470-01491-2

00030797

62-02 ; 60G55 ; 62M07 ; 62M09

statistiques # processus stochastique # processus ponctuels # processus non-markovien # test d'hypothèse # estimation

Ville d'édition : N. J.

Pays d'édition : États-Unis

Langue : Anglais

EAN13 : 9780470014912

Collation : appendix#fig.#25 cm#rel. ; Index

Collection : Statistics in practice

Localisation : Ouvrage RdC (Stat)

Type d'ouvrage : Anonyme

Disponibilité : empruntable


Exemplaires

Nbre d'exemplaires : 1
Cote Code barre Commentaire
1 00030797 [disponible]
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