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Documents  Van der Vaart, Aad W. | enregistrements trouvés : 2

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- 508 p.
ISBN 978-0-387-94640-5

Springer series in statistics

Localisation : Ouvrage RdC (VAN)

application statistique # convergence des mesures de probabilité # convergence stochastique faible # processus empirique # processus stochastique # statistique # échantillon statistique

60B10 ; 60G07 ; 60Gxx ; 62D05

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- xxiv; 646 p.
ISBN 978-0-521-87826-5

Cambridge series in statistical and probabilistic mathematics

Localisation : Ouvrage RdC (GHOS)

inférence probabiliste # statistique # bayésien non paramétrique

62-02 ; 62G08 ; 62C10

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