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Documents  Van Eeden, Constance | enregistrements trouvés : 2

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ISBN 978-0-8405-0106-6

SMS , 0035

Localisation : Salle de manutention

classe d'estimations pour le problème à deux échantillons # estimation de localisation pour le problème à un échantillon # estimation non paramétrique # problème de localisation à deux échantillons # rang

62G05

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- 167 p.
ISBN 978-0-387-33747-0

Lecture notes in statistics , 0188

Localisation : Ouvrage RdC (VANE)

estimation de point # statistiques # inférence # admissibilité # minimax

60-02 ; 62C15 ; 62C20 ; 62F10 ; 62F30

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