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Sampling, wavelets, and tomography

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Ouvrage

Benedetto, John J. (Editor) ; Zayed, Ahmed I. (Editor)

Birkhäuser

2004

xxi; 344 p.

978-0-8176-4304-1

00028268

94-02 ; 42-02 ; 42C40 ; 44A12 ; 92C55 ; 94A20

analyse harmonique # ondelette # analyse de Fourier # échantillonage # tomographie # transformation de Radon # algèbre de Sobolev

Publisher City : Basel ; Berlin ; Boston

Publisher country : Suisse ; Allemagne ; États-Unis

Language : English

EAN13 : 9780817643041

ISBN : 0-8176-4304-4

Collation : 24 cm#rel. ; Bibliogr. ; Index

Series : Applied and numerical harmonic analysis

Location : Ouvrage RdC (SAMP)

Book type : Anonyme

Availability : empruntable

Level of authorization : Public


Copies

Number of copies : 2
No. Call n° Bar code Commentary
1 00028268

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