Sampling, wavelets, and tomography
Benedetto, John J. (Editeur) ; Zayed, Ahmed I. (Editeur)
2004
xxi; 344 p.
978-0-8176-4304-1
00028268
analyse harmonique # ondelette # analyse de Fourier # échantillonage # tomographie # transformation de Radon # algèbre de Sobolev
Ville d'édition : Basel ; Berlin ; Boston
Pays d'édition : Suisse ; Allemagne ; États-Unis
Langue : Anglais
EAN13 : 9780817643041
ISBN : 0-8176-4304-4
Collation : 24 cm#rel. ; Bibliogr. ; Index
Collection : Applied and numerical harmonic analysis
Localisation : Ouvrage RdC (SAMP)
Type d'ouvrage : Anonyme
Disponibilité : empruntable
Niveau d'autorisation : Public
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