En poursuivant votre navigation sur ce site, vous acceptez l'utilisation d'un simple cookie d'identification. Aucune autre exploitation n'est faite de ce cookie. OK
0

Sampling, wavelets, and tomography

Sélection Signaler une erreur
Ouvrage

Benedetto, John J. (Editeur) ; Zayed, Ahmed I. (Editeur)

Birkhäuser

2004

xxi; 344 p.

978-0-8176-4304-1

00028268

94-02 ; 42-02 ; 42C40 ; 44A12 ; 92C55 ; 94A20

analyse harmonique # ondelette # analyse de Fourier # échantillonage # tomographie # transformation de Radon # algèbre de Sobolev

Ville d'édition : Basel ; Berlin ; Boston

Pays d'édition : Suisse ; Allemagne ; États-Unis

Langue : Anglais

EAN13 : 9780817643041

ISBN : 0-8176-4304-4

Collation : 24 cm#rel. ; Bibliogr. ; Index

Collection : Applied and numerical harmonic analysis

Localisation : Ouvrage RdC (SAMP)

Type d'ouvrage : Anonyme

Disponibilité : empruntable

Niveau d'autorisation : Public


Exemplaires

Nbre d'exemplaires : 2
Cote Code barre Commentaire
1 00028268

[disponible]
2 00035485

[disponible]
Sélection Signaler une erreur